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シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル エイタンゴ 860テン 990テン
新TOEICテスト一発で正解がわかる英単語860点・990点 / キム・デギュン著

データ種別 図書
出版者 [東京] : 旺文社
出版年 [2008.6]
本文言語 日本語
大きさ 223p ; 19cm + 録音ディスク (1枚 ; 12cm)
目次/あらすじ

所蔵情報を非表示


1F:語学学修資料 376.87/Ki31sh/pt.2 07446007
9784010940914

書誌詳細を非表示

一般注記 出版地, 出版日付はジャケットによる
著者標目 キム, デギュン <キム, デギュン>
件 名 BSH:英語
分 類 NDC8:830.79
NDC9:830.79
書誌ID 4100011738
ISBN 9784010940914
NCID BA86957866 WCLINK

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