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ヒョウメン ブンセキ シムス
表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス編 ; M.P.シーア編 ; 志水隆一監訳 ; 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳

データ種別 図書
出版者 東京 : アグネ承風社
出版年 2003.7
大きさ 429p ; 21cm
目次/あらすじ

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GF:BOOK.SHELF 428/P88J 06010069
4900508101

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別書名 原書名:Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
著者標目 ブリッグス,D.(工業物理学) <Briggs,D.>
Seah,M.P. <Seah,M.P.>
志水, 隆一 <シミズ,リュウイチ>
二瓶, 好正 <ニヘイ,ヨシマサ>
新SIMS研究会 <シン シムス ケンキュウカイ>
件 名 表面(工学上)
イオンビーム
質量分析
分 類 NDC:428
書誌ID 1001282722
ISBN 4900508101
NCID BA62889819 WCLINK
URL1 http://www.amazon.co.jp/exec/obidos/ASIN/4900508101/

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